4H-semi HPSI 2palcový SiC substrátová destička Production Dummy Research

Substrát z karbidu křemíku se dělí hlavně na vodivý a poloizolační typ, vodivý substrát z karbidu křemíku až substrát typu n se používá hlavně pro epitaxní LED na bázi GaN a další optoelektronická zařízení, výkonová elektronická zařízení na bázi SiC atd., a semi- izolační substrát z karbidu křemíku SiC se používá hlavně pro epitaxní výrobu vysokovýkonných radiofrekvenčních zařízení GaN.Navíc vysoce čistá poloizolace HPSI a poloizolace SI je odlišná, vysoce čistá semiizolační nosná koncentrace v rozsahu 3,5 * 1013 ~ 8 * 1015/cm3, s vysokou mobilitou elektronů;semi-izolace je vysoce odolný materiál, měrný odpor je velmi vysoký, obecně používaný pro substráty mikrovlnných zařízení, nevodivý.

Poloizolační deska z karbidu křemíku SiC wafer

Krystalová struktura SiC určuje jeho fyzikální vlastnosti, vzhledem k Si a GaAs, SiC má fyzikální vlastnosti;zakázaná šířka pásma je velká, téměř 3krát větší než Si, aby bylo zajištěno, že zařízení bude pracovat při vysokých teplotách s dlouhodobou spolehlivostí;síla průrazného pole je vysoká, je 10krát větší než Si, aby se zajistilo, že kapacita napětí zařízení zlepší hodnotu napětí zařízení;saturační rychlost elektronů je velká, je 2krát vyšší než u Si, aby se zvýšila frekvence a hustota výkonu zařízení;tepelná vodivost je vysoká, více než Si, tepelná vodivost je vysoká, tepelná vodivost je vysoká, tepelná vodivost je vysoká, tepelná vodivost je vysoká, vyšší než Si, tepelná vodivost je vysoká, tepelná vodivost je vysoká.Vysoká tepelná vodivost, více než 3x vyšší než Si, zvyšuje schopnost zařízení odvádět teplo a umožňuje miniaturizaci zařízení.